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梅特勒XP2U超微量天平
梅特勒XP2U超微量天平的图片
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面议
品牌:
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446
样本:
暂无
型号:
产地:
瑞士
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暂无
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高级会员 第 2
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产品简介
规格 - XP2U超微量天平
极限值XP2U
**称量值2.1 g
可读性0.0001 mg
重复性(sd) - 加载处0.00025 mg
- 低加载(加载处)0.0002 mg (0.2 g)
线性误差0.001 mg
灵敏度漂移1.5 x 10-5
灵敏度温度漂移 2)0.0001 %/°C
灵敏度稳定性 3)0.0001 %/a
典型值4)
典型重复性(sd)0.00015 mg+2.5 x (10–8)· R_gr
典型微分非线性(sd)√8x(10-14) · g · R_nt
典型灵敏度偏移(sd)2)3x(10-6)· R_nt
典型*小称量值*(符合USP)0.45 mg+7.5 x (10–5) · R_gr
典型*小称量值* (@ U=1 %, 2 sd)0.03 mg+5 x (10–6) · R_gr
典型稳定时间< 10 s

1) 根据OIML R76

2) 在10到30°C的温度范围内

3) **次安装,使用proFACT校准,灵敏度稳定性

4) 能用于估计不确定度 sd=标准偏差 Rgr=毛重 Rnt=净重(样品质量) a=年

* 重复性和*小称量值可以通过以下措施得以改进:- 选择适当的称量参数设置,- 选择合适的天平放置位置,- 使用较小的去皮容器。

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